先端電子機器
並列テストシステム
並列テストシステム
当社の研究開発用並列テスト システムは柔軟性が高く、さまざまなタスクや、さまざまな強磁性材料および圧電材料や形状に合わせて簡単に調整できます。
特別なテストや小規模シリーズに最適
研究開発では、多くの場合、大量のサンプルや部品の試験が伴います。
これは、例えば耐用年数や欠陥メカニズムを評価するための統計的根拠を得るためです。
これに加え、初期開発段階では、少量生産のための特別な試験や測定が必要となることも少なくありません。
ここでは、完全に自動化された生産システムは必要ありません。
重要なのは柔軟性、特に様々なタスク、材料、形状に適応できる能力です。
そして、まさにこの柔軟性こそが、当社の並列試験システムが提供するものです。
生涯テストから神経記憶構造の特性評価まで
寿命試験に使用される µController ベースの HALT システム、最大 30 kV のバルク材料用の高電圧ポーリング システムなどの特殊な測定システム、またはメリスティブ メモリ アーキテクチャ用の複雑な完全同時特性評価システムなど、どのシステムを選択した場合でも、個々のモジュールを追加のアンプ、温度コントローラ、サンプル ホルダーと柔軟に組み合わせて、個別にカスタマイズ可能なシステムを作成できます。
お客様のアプリケーションに最適なソリューションもご用意しております。お気軽にお問い合わせください。