先端電子機器
aixHALT
aixHALT
当社の並列テスト システム aixHALT を使用すると、圧電材料と誘電体材料の信頼性と寿命をこれまでよりもはるかに高速にテストできます。
同時測定のためのモジュラーシステム
HALTは「高度加速寿命試験（Highly Accelerated Lifetime Testing）」の略です。
圧電薄膜が量産に適したものとなり、ますます多くの用途で使用されるようになるにつれ、その耐久性試験が不可欠になっています。
このような寿命試験を実施するには、システムを加速劣化にさらす必要があります。
薄膜におけるこの劣化のメカニズムはまだ十分に解明されていないためです。
したがって、統計的に信頼性の高い分析を行うには、より広範なパラメータ空間を調査する必要があります。
温度、電圧、周波数から信号形式、湿度など、様々な試験パラメータをそれぞれ多数のサンプルで測定する必要があります。最近まで、これは時間のかかるプロセスでした。
作業をスピードアップするために、aixHALTを開発しました。
モジュール設計を採用したこの並列テストシステムにより、ユーザーは事実上任意の数のサンプルを同時に測定できます。
これによりプロセスが加速され、信頼性の高い結果が迅速に得られます。
µController – システムの核
当社のHALTシステムはすべて、独自のマイクロコントローラ（µC）をベースとして構築されています。
µCはスイッチングマトリクスを内蔵し、最大64チャンネルの制御・監視を可能にします。
それぞれのアプリケーションに合わせてカスタマイズされたアンプ、サンプルホルダー、温度コントローラと組み合わせることで、お客様の測定条件に合わせてカスタマイズされた高性能試験システムを実現します。
測定進捗のリアルタイムフィードバック
このシステムは、当社のaixHALTソフトウェアによって制御されます。
装置全体を制御するために開発され、測定の進行状況をリアルタイムでフィードバックします。
わかりやすいユーザーインターフェースにより、システムは簡単かつ直感的に操作でき、ツールを拡張してより多くのデータ収集要件に対応することも可能です。
最大1000個のサンプルを同時に測定
複数のµCを接続することで、並列測定が可能になります。
モジュールは1台のホストコンピュータからEthernet経由で制御されるため、1,000個以上のサンプルに対し、複数のモジュールで同時に広範囲のパラメータをテストできます。
これにより、材料やコンポーネントの大信号および小信号特性を含む信頼性データを、広い温度範囲にわたって評価することが可能になります。
テスト手順の作成においても、柔軟性が重要です。電気励起信号には、様々な高電圧アンプから選択できます。
その後、高精度の仮想接地電流アンプを使用して、サンプルの電流応答を測定できます。
これがあなたにとって何を意味するか
柔軟な構成
- ホスト コンピューターを備えた 19 インチ システムには、複数のコントローラー、アンプ、温度コントローラー、サンプル ホルダーを取り付けることができます。
統合スイッチマトリックス
- 各モジュールには 64 チャンネルのスイッチ マトリックスが装備されており、多数のサンプルを制御できます。
カスタマイズされたサンプルホルダー
- aixACCT Systems では、近年開発されたさまざまな標準サンプルホルダーに加え、お客様の要件に合わせて個別に調整されたカスタマイズされたサンプルホルダーも提供しています。
高いテスト速度
- 多数のサンプルに対してさまざまな電圧、温度などを並列に測定することで、大量のデータを高速に取得できます。
個別のソリューションに対応する多用途ベースシステム
ベースシステムの汎用性こそが、お客様のニーズに合わせた個別のソリューションを設計することを可能にしました。
マイクロコントローラーを中核に、幅広い拡張機能をシステムに組み込むことで、絶縁耐力の向上から電流制限まで、あらゆるお客様の要件に対応できます。
しかしながら、お客様一人ひとりが新たな課題を抱えていらっしゃいますが、私たちは専門知識と経験を活かして、その克服を喜んでお手伝いいたします。
aixACCT Systemsの強みの一つはイノベーションです。お客様の課題に対するソリューションを迅速に提供し、目標達成を迅速化いたします。
その良い例として、私たちが開発し、aixHALT などのシステムで使用しているサンプル ホルダーの膨大な数が挙げられます。