先端電子機器
aixMATRIX
aixMATRIX
当社の完全に統合された aixMATRIX 並列テスト システムは、メモリ、メモリ内の計算、または人工知能アプリケーションで使用されるかどうかに関係なく、メモリスティブ システムのニーズに合わせて特別に設計されています。
詳細な曲線を素早く取得
ニューロモルフィック・コンピュータとメモリ開発のトレンドは、新しく複雑なテストシステムを必要としています。
そこでaixMATRIXの出番です。メモリスティブ・メモリ・アーキテクチャのニーズに合わせて特別にカスタマイズされています。
この完全統合型マトリクス・テストシステムは、16ビットDAコンバータを搭載した64個のアナログチャネルでテスト構造を同時に励起し、各チャネルのサンプリングレートは100MS/秒です。
バイポーラ信号は最大±10Vで生成できます。
超高速かつバイポーラで調整可能な電流コンプライアンスにより、応答時間が50ns未満のメモリスティブ・メモリの詳細な分析が可能になります。
研究開発に最適
テスト構造の電流応答は32チャンネル（16ビット、200MS/秒）で解析可能です。
これにより、最大32 x 32セルのアクティブメモリアレイとパッシブメモリアレイの両方を同時に測定できます。
200 mmウェーハプローバに統合することで、複雑なアーキテクチャをウェーハレベルで高速にテストできます。
したがって、32 x 32マトリックステストシステムは、新しいニューロモルフィックメモリシステムの研究開発に最適なプラットフォームです。
メモリスティブアレイの完全なシステム
半自動ウェーハプローバー 調整可能な電流増幅とアナログ調整可能な電流コンプライアンスを含む革新的な接触
64個のDACと32個のADCを備えたマトリックスシステム
オプションの Matlab インターフェースを備えた LabView ベースのソフトウェア環境
FEおよびRSモジュールを備えたTF-Analyzer 3000
非常に汎用性が高い
並列テストシステムは、半自動ウェーハプローバーをベースとして構築されています。
自動コンタクトにより、ソフトウェアによるサポートでウェーハ全体をステップスルーすることが可能です。
そのため、aixMATRIXは製造テストや大規模な統計データを扱う実験に最適です。
主なハイライトは次のとおりです
- 完全に遮蔽された測定環境
- サーモチャック（バージョンに応じて -60 °C ～ 300 °C の測定が可能）
- ウェハの手動フロントローディングまたは便利なサイドローディング
- ウェーハ全体ではなく個々のダイにも対応可能
個々のメモリスタを測定するために、ナノ秒以下の領域での測定を可能にするウェッジコンタクトシステムを開発しました。より複雑な構造やアレイの測定には、マトリックスモードに切り替えるだけです。
ウェッジモード
ギガサンプル計測カード（DAC + ADC）を使用することで、ウェッジモードで個々のメモリスタの動特性を迅速かつ容易に評価できます。
特別に開発された電流コンプライアンスは50ns以内に反応し、ウェッジに直接実装されているため、被測定セルに可能な限り近い位置で動作します。
これにより、測定された電流信号が増幅され、計測カードに送られます。
半自動ウェーハプローバーと組み合わせると、利用可能なすべてのセルに対して測定を簡単に繰り返すことができます。
マトリックスモード
より複雑な構造を測定する必要がある場合は、ウェッジ モードからマトリックス モードに切り替えます。
64個のDACと32個のADCチャンネルを備え、自由に構成可能な接点レイアウトを実現。
ウェッジモードと同様に、接点近傍に32個の高速かつ独立したアナログプログラマブル電流コンプライアンスと、32個の調整可能な電流アンプを備えています。
特徴
- 各接点で同時に 100 MS/s の固有波形を発信するための 64 個の独立した DAC。
- 32 個の独立した ADC。
- 32 個の電流コンプライアンスにより、メモリスタ アレイの入力電流を 100 ns 以内に制限できます。
- 32 個の電流アンプにより、アレイの出力で 100 MS/s の 32 個の独立した電流信号を記録できます。
ウェーハプローバーのメガズーム顕微鏡とサイドカメラのおかげで、優れた光学系によりあらゆる構造に迅速かつ安全に接触することができます。
