先端電子機器

バルク材料用サンプルホルダー

バルク材料用サンプルホルダー

バルク材料用の幅広いサンプルホルダーもご用意しており、様々な測定要件に対応します。いずれもaixACCT SystemsのPESシステムと併用でき、お客様固有の要件に合わせてカスタマイズ可能です。aixACCT Systemsのサンプルホルダーは使いやすく、常に高い信頼性を誇ります。

PSHU

当社のPSHUサンプルホルダーは、 PES測定システムと組み合わせることで、バルク材料の特性評価における標準となっています。
基本バージョンだけでも120件以上の導入実績があります。
お客様との緊密な連携のもと、10年以上にわたりこのサンプルホルダーの開発を継続してきました。
そのため、-100℃～600℃の温度範囲での測定を含む、様々なバージョンをご用意しています。

各バリアントには、標準から高温材料の特性評価用の PSHU HT、温度サイクルでの圧電測定用の PSHU Cryo まで、特定の利点があります。

PSHU

温度サイクルで高精度の圧電測定を自動的に行いたい場合、aixACCT Systems は、このアプリケーション向けの唯一の市販測定システムを提供します。

PSHUシリーズの最高拡張ステージでは、温度範囲が -100℃～600℃まで拡張されています。
センサーやアクチュエーター用途における新たな要件については、極めて広い温度範囲で新たな材料組成を検討することができます。

特徴

• パージガスの使用が可能室温は最大200℃まで
• 市販のレーザー干渉計による信頼性と精度の高い変位測定10MHzから
• レーザー干渉計で使用するための特殊な上部電極接点最大400 V（ポーリング用）
• 液体窒素用デュワー瓶最大400V
• 乾燥空気または窒素循環用の接続

仕様

温度	最大250℃
サンプルの厚さ	0.1～10mm
サンプル直径	3～25mm
張力	10kV

PSHU HT

PSHU HTサンプルホルダーは、圧電性高温材料の特性評価を高い信頼性で実現します。
PSHUに比べて温度範囲が広く、この目的に最適です。
PSHU HTは 全 温度範囲にわたって自動圧電測定を実行することも可能で、この目的に最適です。

PSHU HT サンプル ホルダーを備えた aixPES は、電流 (分極) と変位を並行して測定できる唯一の商用測定システムであると自負しております。

特徴

• パージガスの使用が可能
• 仮想アース法を用いた電流測定のためのサンプルの接触
• 市販のレーザー干渉計による信頼性と精度の高いひずみ測定
• レーザー干渉計で使用するための特殊な上部電極接点
• サンプル付近の温度測定
• 乾燥空気または窒素循環用の接続

仕様

PSHU Kryo

温度サイクルで高精度の圧電測定を自動的に行いたい場合、aixACCT Systems は、このアプリケーション向けの唯一の市販測定システムを提供します。

PSHUシリーズの最高拡張ステージでは、温度範囲が -100℃～600℃まで拡張されています。
センサーやアクチュエーター用途における新たな要件については、極めて広い温度範囲で新たな材料組成を検討することができます。

特徴

• パージガスの使用が可能
• 市販のレーザー干渉計による信頼性と精度の高い変位測定
• レーザー干渉計で使用するための特殊な上部電極接点
• 液体窒素用デュワー瓶
• 乾燥空気または窒素循環用の接続

仕様

Bulk/CMA

温度サイクルで高精度の圧電測定を自動的に行いたい場合、aixACCT Systems は、このアプリケーション向けの唯一の市販測定システムを提供します。

PSHUシリーズの最高拡張ステージでは、温度範囲が -100℃～600℃まで拡張されています。
センサーやアクチュエーター用途における新たな要件については、極めて広い温度範囲で新たな材料組成を検討することができます。

特徴

• 上と下からの接触、または側面接触または有線プローブによる接触
• 高さ調節可能な点接触部間のサンプルのクランプ
• 市販のレーザー干渉計による信頼性と精度の高いひずみ測定
• 強度ベースの変位測定システムと比較して、広い動作範囲とセンサーヘッドまでの距離が長い
• サンプル表面の研磨は不要
• サンプルの温度測定（周囲温度）

仕様