先端電子機器

システムソリューション


システムソリューション

aixACCT Systems のソリューションはモジュール式で柔軟な設計を採用しているため、オペレーターに関係なく、全体的なシステム仕様に沿ってサンプルの特性を測定できます。

多くの場合、標準的なシステム

aixPESは、当社の最初のシステムソリューションでした。それは20年前のことです。
それ以来、私たちは数多くのカスタマイズシステムを開発してきました。
これらの多くは、それぞれの材料や用途に合わせてカスタマイズできることから、幅広い分野で標準システムとなっています。

中央制御要素としてのTFアナライザー

すべてのシステムに共通するのは、TFアナライザーを中央制御要素として使用している点です。
個々のコンポーネントは完全に互換性があり、モジュール設計により高度なシステムを構築できます。
このモジュール性と柔軟性により、お客様のニーズにぴったり合ったシステムを、低コストで短期間で構築することが可能になります。

正確で直感的

当社のシステムソリューションは高度にカスタマイズされることが多くありますが、精度と使いやすさの両面で妥協することはありません。
市場もこの点を認識しており、当社の製品の多くは、強磁性材料および圧電材料の特性評価における非公式のベンチマークとなっています。
薄膜、バルク、多層など、当社のシステム ソリューションの詳細については、以下をご覧ください。

当社のポートフォリオ



aixPES

圧電試験のベンチマークを選択

試験対象がどのような材料であっても、aixPESは最適なソリューションです。圧電セラミックスの包括的な電気的および電気機械的特性評価を可能にします。


aixSCAN

開発と生産における自動特性評価

材料開発から完成品まで、aixSCANシステムは高い柔軟性を備えた自動測定を実現します。
プッシュボタンのテストから超音波センサーのバルクアレイのテストまで、お客様のニーズに合わせたソリューションを開発いたします。



aixCMA

あらゆる種類のセンサーとアクチュエータ評価

µNからkNまで、あらゆる力の測定範囲において、力に関する測定に最適な測定システムをご提供します。
aixCMAシステムは、デバイスの剛性や弾性係数といった機械特性を高い信頼性で測定します。また、様々な励起電圧におけるブロッキングフォースカーブを測定することも可能です。


aixDBLI

研究及び予備開発の薄膜特性評価

当社のデュアルビームレーザー干渉計リサーチラインは、1インチから8インチまでの薄膜の圧電特性評価を、手動から半自動で行うことができます。
また、当社のDBLI(デュアルビームレーザー干渉計)を使用することで、クランプされた層のd33係数を迅速かつ正確に、高い再現性で測定することも可能です。