先端電子機器
TF 2000E
TF 2000E
電気セラミック材料およびシステム用の最先端の分析装置には、4つの異なるプローブヘッドを取り付けることができます。
最も人気のあるコアシステム
TF 2000Eは、世界最先端の電子セラミック材料およびシステム用分析装置の一つです。
TF Analyzerは、1999年に強誘電体メモリの試験用に開発されました。
以来、変化するニーズに応えるため、測定システムを継続的に改良してきました。
現在では、当社のaixPES製品の中でも最も人気のあるコアシステムとなっています。
幅広いオプションを備えたモジュラー設計
エントリーレベルのTF 1000とは異なり、TF 2000Eテストシステムはモジュール設計を採用しています。
最大4種類のプローブヘッドを同じ基本ユニットに接続できます。
各プローブヘッドはそれぞれ異なる特性評価手法を備えています。
基本原理は、必要に応じて電源ケーブルとそれに伴う寄生効果を可能な限り抑制することです。
そのため、すべての仮想接地電流アンプと電圧アンプがTF 2000 Eに組み込まれています。
TF 2000Eシステムには、さまざまな特性評価方法に対応する次のモジュールが用意されています。
FEモジュール：強誘電体材料の標準測定
- FEモジュールは、最大30Vの出力電圧を出力できる電圧アンプと、テスト電流を検出するための電流アンプで構成されています。帯域幅と分解能を最大限に活用するために、10pAから1Aまでの複数の範囲から選択できます。
RSモジュール：抵抗スイッチング材料の主な電気特性の決定
- RSモジュールは、電圧励起と電流測定および電圧モニタリング、または電流励起と電圧測定および電流モニタリングを組み合わせた機能を提供します。抵抗スイッチング材料の主要な電子特性を測定するための様々な測定を行うために開発されました。
MRモジュール: 電位計アンプを介した電圧測定のための超高インピーダンス
- MRモジュールは、磁気抵抗材料や強磁性材料の測定を可能にします。この目的のために、システムには様々な電磁石を取り付けることができます。RSモジュールと同様に、MRモジュールは高精度電源を備えています。サンプル両端の電圧降下は、高精度の4点測定と電位計アンプを用いて測定されます。これにより、例えば10mΩを1%未満の精度で測定することが可能です。これにより、磁気トンネル接合やジョセフソン接合などを測定できます。