TF 3000は、電気セラミック材料およびシステムの専用の高速テストに最適です。
TF 3000システムは、入力分解能に制限なく、励起周波数の帯域幅を可能な限り広く提供します。
これにより、電気セラミック材料およびシステムの高速試験に最適なオプションを提供します。
このアナライザーは、高速励起での測定を必要とする当社のPESおよびCMAシステムにも使用されています。
拡張FEモジュールと組み合わせることで、TF 3000は1MHzの周波数範囲で強誘電体材料のヒステリシス測定を実現します。
これにより、市場の他のどのシステムよりも高い周波数で測定を行うことができます。
TF 3000には、1MHz の周波数範囲をカバーする150Vの統合型高周波アンプがオプションで用意されています。
TF 2000Eと同様に、同じ基本ユニットに様々なプローブヘッドを接続できます。
それぞれのプローブヘッドは、材料の特性評価に異なる手法を採用しています。
FEモジュール:強誘電体材料の標準測定
RS モジュール: 抵抗スイッチング材料の主な電気特性を決定します。
ISモジュール:アクチュエータのインピーダンス挙動の決定