Si、GaN、GaAs、InPh、SiC などの結晶材料の断面を切断するためのシンプルな手動切断ツールです。
SELA 独自の Perfect Cleaving テクノロジーを活用して、完璧な断面品質で結晶材料を高速に劈開します。
SEM 分析のサンプル準備用のスタンドアロン ソリューションとして、また SELA の自動ナノ クリービング シリーズ (MC500、MC600、MC600i システム) の初期サンプル準備用の補完ツールとして、2000 年に半導体市場に発表され、顧客に提供されました。
SELA の顧客は PCM の優れた機能を認識し、過去 15 年間にわたってさまざまな準備要件に PCM を活用してきました。
コンパクトなツールであり、お客様は拡大鏡と光学実体顕微鏡の下で使用して、劈開の精度を向上させます。