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検索結果: 1282件
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変位測定
固定ページ / 更新日2025.08.06
先端電子機器 変位測定 先端電子事業へのお問い合わせ > 変位測定 圧電材料の特性評価に関しては、変位を測定するためにレーザー干渉計システムを使用します。 変位を正確に決定する これらのシステムは使いやすく、非常に高い分解能を備えています。aixACCT Systemsの製…
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アンプ
固定ページ / 更新日2025.08.06
先端電子機器 アンプ 先端電子事業へのお問い合わせ > アンプ 強誘電体材料の調査では、材料やサンプルの形状に応じて、異なる電圧範囲が必要になる場合があります。そのため、aixACCT Systemsは、様々なアンプを搭載したPESシステムを提供しています。 あらゆるニーズ…
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追加コンポーネント
固定ページ / 更新日2025.08.06
先端電子機器 追加コンポーネント 先端電子事業へのお問い合わせ > トップ > TFアナライザー > システムソリューション > 並列テストシステム > サンプルホルダー > 追加コンポーネント > 追加コンポーネント 当社では、追加のコ…
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圧電ポリマーおよびソフトマテリアル用サンプルホルダー
固定ページ / 更新日2025.08.06
先端電子機器 圧電ポリマーおよびソフトマテリアル用サンプルホルダー 先端電子事業へのお問い合わせ > 圧電ポリマーおよびソフトマテリアル用サンプルホルダー aixACCT SystemsとElectrosciencesは、革新的な材料特性評価装置の開発で提携しています。これ…
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多層膜用サンプルホルダー
固定ページ / 更新日2025.08.06
先端電子機器 多層膜用サンプルホルダー 先端電子事業へのお問い合わせ > 多層膜用サンプルホルダー 調整可能なプリロード力を備えたサンプル ホルダーは、多層構造での急速な大信号励起中に圧電セラミックが損傷するのを防ぎます。 熱から冷へ アクチュエータのプリロードについては、…
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バルク材料用サンプルホルダー
固定ページ / 更新日2025.08.06
先端電子機器 バルク材料用サンプルホルダー 先端電子事業へのお問い合わせ > バルク材料用サンプルホルダー バルク材料用の幅広いサンプルホルダーもご用意しており、様々な測定要件に対応します。いずれもaixACCT SystemsのPESシステムと併用でき、お客様固有の要件に…
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薄膜およびMEMS用サンプルホルダー
固定ページ / 更新日2025.08.06
先端電子機器 薄膜およびMEMS用サンプルホルダー 先端電子事業へのお問い合わせ > 薄膜およびMEMS用サンプルホルダー シンプルな接触ステーションから革新的な「4 点曲げサンプルホルダー」まで、適切なサンプルホルダーを使用することで、薄膜や MEMS を確実かつ迅速に特…
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サンプルホルダー
固定ページ / 更新日2025.08.06
先端電子機器 サンプルホルダー 先端電子事業へのお問い合わせ > トップ > TFアナライザー > システムソリューション > 並列テストシステム > サンプルホルダー > 追加コンポーネント > サンプルホルダー aixACCT Sys…
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aixMATRIX
固定ページ / 更新日2025.08.06
先端電子機器 aixMATRIX 先端電子事業へのお問い合わせ > aixMATRIX 当社の完全に統合された aixMATRIX 並列テスト システムは、メモリ、メモリ内の計算、または人工知能アプリケーションで使用されるかどうかに関係なく、メモリスティブ システムのニーズ…
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aixHALT
固定ページ / 更新日2025.08.06
先端電子機器 aixHALT 先端電子事業へのお問い合わせ > aixHALT 当社の並列テスト システム aixHALT を使用すると、圧電材料と誘電体材料の信頼性と寿命をこれまでよりもはるかに高速にテストできます。 同時測定のためのモジュラーシステム HALTは「高度加…
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aixDBLI
固定ページ / 更新日2025.08.06
先端電子機器 aixDBLI 先端電子事業へのお問い合わせ > aixDBLI 当社の aixDBLI 測定システムの研究ラインは、圧電薄膜の特性評価に優れた柔軟性とモジュール性を提供します。 研究開発における幅広い測定オプション DBLI測定システムのリサーチラインは、個…
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aixCMA
固定ページ / 更新日2025.08.06
先端電子機器 aixCMA 先端電子事業へのお問い合わせ > aixCMA aixCMA システムは、圧電材料およびコンポーネントの総合的な力ベースの電気的および電気機械的特性評価を可能にします。 実際の条件下でのアクチュエータとセンサーの特性の調査 aixCMAシステムは…