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検索結果: 1330件
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バルク材料用サンプルホルダー
固定ページ / 更新日2025.08.06
先端電子機器 バルク材料用サンプルホルダー 先端電子事業へのお問い合わせ > バルク材料用サンプルホルダー バルク材料用の幅広いサンプルホルダーもご用意しており、様々な測定要件に対応します。いずれもaixACCT SystemsのPESシステムと併用でき、お客様固有の要件に…
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薄膜およびMEMS用サンプルホルダー
固定ページ / 更新日2025.08.06
先端電子機器 薄膜およびMEMS用サンプルホルダー 先端電子事業へのお問い合わせ > 薄膜およびMEMS用サンプルホルダー シンプルな接触ステーションから革新的な「4 点曲げサンプルホルダー」まで、適切なサンプルホルダーを使用することで、薄膜や MEMS を確実かつ迅速に特…
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サンプルホルダー
固定ページ / 更新日2025.08.06
先端電子機器 サンプルホルダー 先端電子事業へのお問い合わせ > トップ > TFアナライザー > システムソリューション > 並列テストシステム > サンプルホルダー > 追加コンポーネント > サンプルホルダー aixACCT Sys…
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aixMATRIX
固定ページ / 更新日2025.08.06
先端電子機器 aixMATRIX 先端電子事業へのお問い合わせ > aixMATRIX 当社の完全に統合された aixMATRIX 並列テスト システムは、メモリ、メモリ内の計算、または人工知能アプリケーションで使用されるかどうかに関係なく、メモリスティブ システムのニーズ…
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aixHALT
固定ページ / 更新日2025.08.06
先端電子機器 aixHALT 先端電子事業へのお問い合わせ > aixHALT 当社の並列テスト システム aixHALT を使用すると、圧電材料と誘電体材料の信頼性と寿命をこれまでよりもはるかに高速にテストできます。 同時測定のためのモジュラーシステム HALTは「高度加…
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aixDBLI
固定ページ / 更新日2025.08.06
先端電子機器 aixDBLI 先端電子事業へのお問い合わせ > aixDBLI 当社の aixDBLI 測定システムの研究ラインは、圧電薄膜の特性評価に優れた柔軟性とモジュール性を提供します。 研究開発における幅広い測定オプション DBLI測定システムのリサーチラインは、個…
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aixCMA
固定ページ / 更新日2025.08.06
先端電子機器 aixCMA 先端電子事業へのお問い合わせ > aixCMA aixCMA システムは、圧電材料およびコンポーネントの総合的な力ベースの電気的および電気機械的特性評価を可能にします。 実際の条件下でのアクチュエータとセンサーの特性の調査 aixCMAシステムは…
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aixSCAN
固定ページ / 更新日2025.08.06
先端電子機器 aixSCAN 先端電子事業へのお問い合わせ > aixSCAN aixSCANは、圧電材料の包括的な特性評価を可能にする当社の自動化システム群の名称です。このプラットフォームをベースに、薄膜プリントヘッドに特化したaixTNTなどの製品を開発しました。 1つ…
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aixPES
固定ページ / 更新日2025.08.06
先端電子機器 aixPES 先端電子事業へのお問い合わせ > aixPES aixPES は、圧電セラミックスの包括的な電気的および電気機械的特性評価を可能にします。 高精度と自動化 aixPESは、固体セラミックの特性評価を希望するお客様のために2002年に開発した試験シ…
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TF 3000
固定ページ / 更新日2025.08.06
先端電子機器 TF 3000 先端電子事業へのお問い合わせ > TF 3000 TF 3000は、電気セラミック材料およびシステムの専用の高速テストに最適です。 アナライザーファミリーのフラッグシップ TF 3000システムは、入力分解能に制限なく、励起周波数の帯域幅を可能…
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TF 2000E
固定ページ / 更新日2025.08.06
先端電子機器 TF 2000E 先端電子事業へのお問い合わせ > TF 2000E 電気セラミック材料およびシステム用の最先端の分析装置には、4つの異なるプローブヘッドを取り付けることができます。 最も人気のあるコアシステム TF 2000Eは、世界最先端の電子セラミック材…
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TF 1000
固定ページ / 更新日2025.08.06
先端電子機器 TF 1000 先端電子事業へのお問い合わせ > TF 1000 TF 1000テストシステムは、強誘電体および圧電特性の包括的な特性評価を可能にするコスト効率の高いエントリーモデルです。 0.1～1000Hzの高精度測定 TF 1000 は、上位機種である …